セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）とは？
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）とは、一定の規格に基づき撮影された顎顔面頭蓋部のエックス線写真のことです。主に歯科矯正治療における診断に用いられています。
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）は一定の規格に基づき撮影を行うため、治療前・治療後の比較が容易であるという特徴があります。
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）は一定の規格に基づき撮影を行うため、治療前・治療後の比較が容易であるという特徴があります。
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）の目的
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）は、以下のような目的で利用されています。
- 不正咬合の診断
- 歯科矯正治療の評価
- 顎顔面頭蓋部の成長発育の研究
- 顎顔面頭蓋部の形成異常の把握
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）の計測点
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）には、次のような計測点があります。
- N（ナジオン）：鼻前頭縫合部の最前点
- S（セラ）：蝶形骨トルコ鞍の壺状陰影像の中心点
- Or（オルビターレ）：眼窩骨縁の最下点
- Po（ポリオン）：骨外耳道の上縁
- ANS（前鼻棘）：前鼻棘の最先端部
- PNS（後鼻棘）：後鼻棘の最先端部
- A（A点）：ANS（前鼻棘）と上顎中切歯間歯槽突起最前点との間の唇側歯槽骨縁上の最深点
- B（B点）：下顎歯槽骨突起最前点とPog（ポゴニオン）の間の最深点
- Pog（ポゴニオン）：FH平面に対する下顎オトガイ隆起の最突出点
- Gn（グナチオン）：顔面平面と下顎下縁平面とのなす角の2等分線がオトガイ隆起と交わる点
- Me（メントン）：オトガイ正中断面像の最下点
- Ar（アーティキュラーレ）：下顎枝後縁と頭蓋底の正中面像との交点
- Go（ゴニオン）：下顎後縁平面と下顎下縁平面との交点のなす角の2等分線が下顎骨縁と交わる点
- Ba（バジオン）：斜台の基底部で、大円孔の前線上の最低点
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）の基準平面
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）には、次のような基準平面があります。
- FH平面（フランクフルト平面）：Or（オルビターレ）とPo（ポリオン）を結んだ線
- SN平面：S（セラ）とN（ナジオン）を結んだ線
- 顔面平面：N（ナジオン）とPog（ポゴニオン）を結んだ線
- 下顎下縁平面：Me（メントン）を通る下顎下縁の接線
- 仮想咬合平面とは区別されます。">咬合平面：上下顎中切歯節煙の中点と上下顎第一大臼歯の咬頭嵌合の中央点を結んだ線
- 下顎後縁平面：Ar（アーティキュラーレ）を通る下顎枝後縁の接線
- 口蓋平面：ANS（前鼻棘）とPNS（後鼻棘）を結んだ線
- Ba-N平面（バジオン-ナジオン平面）：Ba（バジオン）とN（ナジオン）を結んだ線
- Y軸：S（セラ）とGn（グナチオン）を結んだ線
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）の分析法
セファログラム（側面頭部エックス線規格写真）には、次のような分析法があります。
- Downs法：フランクフルト平面（FH平面）を基準平面として用いる
- North-Western法：SN平面を基準平面として用いる
- Tweed法：FMA、FMIA、IMPAなどの計測項目がある
